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首頁/ 產品中心 / 光電測量儀器 / 光斑/光束/輪廓分析儀/ 高功率光束質量分析儀 350-1100nm

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高功率光束質量分析儀 350-1100nm  

特點:內置風冷采樣器業內領xian的刀口系統特有的圖像層析重建算法可測15微米到9毫米大小的光斑可精確測量光斑輪廓、功率和位置

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BA7-Si-USB-SAM3-HP-B  E80060011  8-10周    高功率光束質量分析儀   [PDF] 內置風冷采樣器 - 業內領先的刀口系統  
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特點:

內置風冷采樣器

業內領xian的刀口系統

特有的圖像層析重建算法

可測15微米到9毫米大小的光斑

可精確測量光斑輪廓、功率和位置


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