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Duma BeamOn U3-VIS NIR光束位置分析儀 350–1600nm (光斑分析儀)  

BeamOn U3是一種光束測量系統是一種光束測量系統,用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統是用于連續或脈沖激光束實時測量的光束診斷測量系統。它提供了激光光束參數的廣泛的圖形表示和分析能力……

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U3- VIS NIR  E80060002  4-6 周    BeamOn U3-VIS NIR光束質量分析儀 350-1600nm   [PDF] 工作波長 350 - 1600nm;光敏面尺寸 11.34 x 7.13mm;束寬分辨率 ≤1μm;光斑尺寸 ?75μm - ?6 mm;USB3.0數據線    價格 : 請聯系客服 庫存:請咨詢客服
總覽

BeamOn U3是一種光束測量系統是一種光束測量系統,用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統是用于連續或脈沖激光束實時測量的光束診斷測量系統。它提供了激光光束參數的廣泛的圖形表示和分析能力,如:光束寬度、形狀、位置、功率和強度輪廓。BeamOn是一個USB3.0設備級的軟件驅動設備,駐留在用戶提供的主機中。它是一個用戶友好的系統,提供圖形和數字信息,以直觀地解釋數據。BeamOn U3視頻設備和軟件可以集成到各種兼容的PC電腦平臺或筆記本電腦上,在Windows操作系統下運行,滿足實驗室或工廠的各種自動激光分析需求。

產品特點

通用性強,可以測光斑輪廓、功率、位置

 高分辨率(2.35M像素)12位動態范圍

配有內置電動濾輪和全套附件的完整測試儀

用于多光束分析的多個活動區域

激光束優化

質量控制

高斯擬合分析

光束位置對準

使用方便,自帶軟件,基于USB3.0

技術參數

激光類型

連續或脈沖

束寬分辨率

≤1μm

像素 (H x V )

1920 x 1200

光斑尺寸

?75μm - ?6 mm

工作波段

350–1600 nm

光敏面尺寸

11.34 x 7.13(mm),傳感器可分為多個活動區域,并行工作多達400個扇區(新)

增益控制

1 -24 dB

動態范圍

60 dB, 12 bit

快門速度

39μs-20s

幀速

快變模式(新):40/s–550/s

像素大小

5.86 μm x 5.86 μm

像素位深

12 bits

同步性

軟件;硬件(外部觸發信號)

曝光控制

通過GUI編程

配件

① 近紅外衰減器;② SAM3-C;③ RDC;④ C-Mount衰減器

供電要求

~2 W(通過USB3.0接口)

尺寸(L x W x H)

64 x 46 x 73.5mm

重量(標準值)

300 g

硬件要求

CPU i3 1.6 GHz, 4 GB   RAM

界面

USB 3.0, windows 7/8/10 (32或64 位)

機械接口

后安裝:2個同心相對8-32 UNC 6mm深的探測器光學配件和衰減器:C-mount

內置自動衰減輪

衰減器器:ND8、ND200、ND1000,一個空置


不同波長工作下的飽和度與靈敏度:

波長

633 nm

980 nm

1310 nm

1550 nm

飽和度

20 μW/mm2

100 μW/mm2

0.2 W/mm2

2 W/mm2

靈敏度

≤1 nW/mm2

≤1 nW/mm2

200 μW/mm2

2 mW/mm2


筱曉光子1310nm SLD光斑實測圖:

U3.1.jpg

軟件界面


U3.2.jpg

3D視圖顯示

通用參數

單位(mm)

U3.3.jpg

產品應用

● 激光光斑分析:光束的中心,橢圓度,光束寬度,形狀,位置,功率和強度分布

● 光束對準

● 在線監測

● 高斯擬合分析

● 光束位置測量

● 激光光束優化和質量控制

訂購信息

Model BeamOn U3- VIS NIR:350 - 1600nm的相機,內置電動濾光輪,USB3.0數據線,應用軟件(CD/U盤),安裝桿,35mm遮光罩,手提箱

SAM3-C:高功率激光衰減配件(最高20w)

IR-Edge Filter:C-mount近紅外濾波器

RDC:光束減小配件(比例2x1)










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