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半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 日本三豐Mitutoyo FS70  

日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長,倍數高,能夠應用在各種檢測場合和質量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭,顯微鏡系統的放大倍率可涵蓋20X到……

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MP-FS70  E80100060  聯系我們    日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡(半導體觀測顯微鏡 20X到8000X工作距離6-34mm)   [PDF] 顯微鏡系統的放大倍率可涵蓋20X到8000X;工作距離范圍從6到34mm;精確調整分辨率可達0.1mm    價格 : 請聯系客服 庫存:請咨詢客服
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日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長,倍數高,能夠應用在各種檢測場合和質量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭,顯微鏡系統的放大倍率可涵蓋20X到8000X,工作距離范圍從6到34mm。對焦目鏡可安裝直徑為25mm的測量分劃板來測量。50/50三端輸出顯微鏡的粗調范圍為50mm,精確調整分辨率可達0.1mm,并可同時進行視頻輸出和雙目觀測。

FS70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等??蓱糜谇懈?、修整、校正、 給半導體電路做標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。












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